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新拓三维携应变测量方案亮相韩国KIM彰显国际风采

2019年11月08日 18:16:04 

  •       2019年10月23日至25,韩国金属材料研究所会议(简称KIM)在韩国大邱市举行,此次会议主要探讨金属材料分析、测量新技术发展,构建企业与研究所,高校之间合作的桥梁。新拓三维受邀参加会议,并在现场展出了能与国外巨头竞争的“招牌”产品—XTDIC三维全场应变测量分析系统,为此次会议增添了一抹亮色。

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          据了解,此次活动的主办方为韩国金属材料研究所,自1946年成立以来,该研究所致力于与其他国家的金属材料研究所进行交流,联合举办国际会议和国际会议、研讨会,努力改善科技交流,促进友好关系。主办或主办国际会议和专题讨论会的目的是在国内和国际上促进韩国的科学和技术,使研究人员了解科学和技术领先国家的最新研究趋势和案例研究。

          在实验固体力学领域中,对于不同载荷下,材料和结构表面的变形测量一直是一个重点研究的课题。在此次展会上,新拓三维向参展观众展示了XTDIC三维全场应变测量分析系统,新拓三维韩国代理商Jay park先生现场为参展观众讲解了XTDIC在材料测试方面的应用。

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          传统的接触式测量方法,受测量手段限制,不能得到全场数据,而且测量范围有限,无法获取材料整体上的变形规律。采用数字图像相关测量技术的XTDIC,由于处理对象是数字图像,对光源和测量环境要求较低,且数字图像处理技术的测量精度高,是测量材料表面变形的一种有力又灵活的工具。

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          XTDIC三维全场应变测量分析系统在材料的力学测试和分析上,有着丰富的实践案例,尤其是对于岩石材料、木材、生物材料、低维膜材料的变形测量,对于金属板材拉伸变形的应用也非常成熟,可以对不同形状的试样表面进行全场应变值的分析计算,如对光滑试样或缺口试样进行变形测量,可以快速采集被测物品表面的变形、应变信息。

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          此次展会上,有不少参展观众前来展位参观产品,Jay park先生现场对XTDIC进行了操作演示并详细地进行讲解,前来咨询的参展观众对产品展现出了浓厚的兴趣,并进行深入了探讨,对XTDIC产品的技术亮点和应用实践给予了充分的肯定。

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